OLED發(fā)光效率測量系統(tǒng)

產(chǎn)品名稱：OLED/LED電致發(fā)光/光致發(fā)光測量系統(tǒng)，EL/PL測量系統(tǒng)，多角度光譜測量系統(tǒng)，發(fā)光效率測量系統(tǒng)，發(fā)光光譜測量系統(tǒng)，外量子效率測量系統(tǒng)。

Phelos用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角，同時也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關系，計算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。

技術優(yōu)勢

• 角度依賴的PL光致發(fā)光譜分析

• 角度依賴的EL電致發(fā)光譜分析

• 角度依賴的發(fā)光分析

• 兼容頂發(fā)光和底發(fā)光結構的OLED的及其他發(fā)光器件

• p- and s-偏振態(tài)檢測

• 偏振角度連續(xù)掃描

• 發(fā)光層中發(fā)光偶極子檢測及偶極子趨向分析

• 兼容各種幾何尺寸樣品

• 樣品便捷對準

• 可與Setfos結合，對發(fā)光層進行分析

測量功能

• 顏色效率分析

• 可視角分析

• 量子效率EQE

• 流明效率lm/W

• 發(fā)光效率Cd/A

• 發(fā)光區(qū)域擬合

• 發(fā)光趨向分析

• 發(fā)光特性角度依賴分析

• 光譜和顏色VS. 發(fā)射角

• 發(fā)光層中偏振態(tài)分析

• 散射特性分析

• 工作點

• 效能 (cd/A)

• CIE 坐標

• 色溫和顯色指數(shù)等分析

• 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線測量

• 光譜輻照度/強度

• 輻射強度

• 亮度

技術規(guī)格